Achtung:

Sie haben Javascript deaktiviert!
Sie haben versucht eine Funktion zu nutzen, die nur mit Javascript möglich ist. Um sämtliche Funktionalitäten unserer Internetseite zu nutzen, aktivieren Sie bitte Javascript in Ihrem Browser.

Info-Icon This content is partly available in English
Department of Chemistry
Hornluftdosierung an einer Spritzpistole im Praktikum Lackapplikation Show image information
Kolorierte Rasterelektronenmikroskopaufnahme eines Effektpigmentes Show image information
Mittels des PeakForce QNM-Messmodus lassen sich nanomechanische Eigenschaften am Rasterkraftmikroskop ermitteln. Show image information
Kolorierte Rasterelektronenmikroskopaufnahme einer mmonodispersen Polymerdispersion Show image information
Probenwechsel unter dem Infrarotstrahler Show image information
Ermittlung der Kornfeinheit mittels Grindometer im Praktikum Show image information

Hornluftdosierung an einer Spritzpistole im Praktikum Lackapplikation

Photo: Irina Regehr, CMP, Universität Paderborn

Kolorierte Rasterelektronenmikroskopaufnahme eines Effektpigmentes

Photo: Nadine Buitkamp, CMP, Universität Paderborn

Mittels des PeakForce QNM-Messmodus lassen sich nanomechanische Eigenschaften am Rasterkraftmikroskop ermitteln.

Photo: Irina Regehr, CMP, Universität Paderborn

Kolorierte Rasterelektronenmikroskopaufnahme einer mmonodispersen Polymerdispersion

Photo: Nadine Buitkamp, CMP, Universität Paderborn

Probenwechsel unter dem Infrarotstrahler

Photo: Irina Regehr, CMP, Universität Paderborn

Ermittlung der Kornfeinheit mittels Grindometer im Praktikum

Photo: Irina Regehr, CMP, Universität Paderborn

Coating Materials & Polymers
Prof. Dr. Wolfgang Bremser

Atmoic Force Microscopy (AFM) with the Bruker Dimension Icon PT

Information on the manufacturers webpage
Detailed information regarding Atomic Force Microscopy

Messprinzip und Aufbau

Schematic measuring principles of a atomic force micropscope.

Eine sehr fein zulaufende Messspitze (engl.: Tip) ist an einer Blattfeder (Biegebalken, engl.: Cantilever) befestigt. Typische Durchmesser der Messspitze sind 30 nm bis unter 1 nm (atomarer Maßstab). Wechselwirkungen mit der Probenoberfläche führen zu einer Krafteinwirkung, welche die Blattfeder nach dem Hookeschen Gesetz verbiegen können:

Kraft = - Kraftkonstante ⋅ Auslenkung

Die Auslenkung der Feder wird indirekt mittels eines Lasers vermessen, dessen reflektiertes Licht in einen Vier-Quadranten-Fotodetektor fällt. Zusätzlich zu der Auslenkung des Cantilevers kann dieser auch mittels eines Piezo-Elements in z-Richtung bewegt werden. Die Bewegungen in x- und y-Richtung werden je nach Gerät über ein Verfahren der Messsonde oder der Probenauflage (engl.: Stage) realisiert

The University for the Information Society