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Department of Chemistry
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UV-Vis-Spektroskopie

Vertex 70 & PMA 50/Bruker Optics

Infrarot-Reflexions-Absorptions-Spektroskopie (IRRAS)

Neben der Infrarot-Reflexions-Absorptions-Spektroskopie (IRRAS) unter variablem Winkel (13-83°) zur Analyse von dünnen Schichten steht eine diffuse Reflexions- (DRIFT-) Zelle zur Messung von Einkristallen und stark streuenden Proben zur Verfügung.


Herzstück des Spektrometers ist ein photoelastischer Modulator (PM-IRRAS) der es erlaubt auch ex-situ Untersuchungen an Monolagen auf metallischen Oberflächen durchzuführen. 

 

 

Infrarot-Mikroskopie

Vertex 70/Bruker Optics

In dieser Einheit ist das Spektrometer Vertex 70/Bruker Optics auf der linken Seite mit einem Mikroskop (Hyperion 1000/Bruker Optics verbunden. Dadurch ist, neben Standard-IR-Messungen, IR-Spektroskopie auf definierten, bis minimal 20 µm großen Messflächen einer Probe möglich. Durch unterschiedliche Objektive können Messungen in Transmission, senkrechter Reflexion, Reflexion im Streiflicht (83°) und unter abgeschwächter Totalreflexion (ATR) durchgeführt werden. Die andere Seite des IR-Spektrometers ist mit einer Plasmazelle gekoppelt. In der Zelle können Atmosphären- oder Niederdruckplasmen erzeugt werden und simultan IRRAS, OES, SKP oder QCM-Messungen durchgeführt werden.

 

 

Raman Imaging Spektroskopie

Raman Imaging Spektroskop: Renishaw In Via Raman Spektroskop und Leica DM 2500 M Mikroskop

Das Raman Imaging Spektroskop ist ein modularer Aufbau aus einem Renishaw In Via Raman Spektroskop und einem Leica DM 2500 M Mikroskop. Die Anregung der Ramanstreuung kann variabel über einen Ar-Laser (633nm) oder einen Nd:YAG-Laser (532nm) erfolgen, die Detektion mittels eines hoch sensitiven, ultra rauscharmen RenCam CCD-Detektors.
Das Mikroskop verwendet N PLAN Objektive mit 5x, 10x, 20x, 50x, und 100x Vergrößerung, zusätzlich ein 63x Immersionsobjektiv und ein 50x long distance Objektiv.
Als Messmodi stehen konfokale und nicht konfokale spektrale Messungen sowie Oberflächenmapping mit einer maximalen lateralen Auflösung von 500nm zu Verfügung.
Zusätzlich kann das Raman Spektroskop auch als Fluoreszenzspektroskop verwendet werden.

 

 

Ellipsometrie

EP3-SW, Nanofilm Technology
  • Untersuchung von mikrostrukturierten Oberflächen
  • Bestimmung optischer Materialeigenschaften (Brechungsindex, Extinktionskoeffizient)
  • Bestimmung der Schichtdicke sehr dünner Filme im Bereich von 1 nm und einigen Mikrometern
  • Laterale Auflösung von 1 µm
  • Schichtdickenauflösung von 0,1 nm
  • Elektrochemische Fest-Flüssig-Zelle für elektrochemische Messungen von nicht-transparenten Proben in flüssiger Umgebung

 

Induktiv gekoppeltes Plasma - Optische Emmisionsspektroskopie ICP-OES

ICP-OES (Induktiv gekoppeltes Plasma), ARCOS, der Fa. SPECTRO

Mittels ICP-OES werden wässrige Lösungen analysiert. Die Empfindlichkeit des Systems ist sehr hoch, jedoch elementspezifisch. Nach Zerstäubung der Lösung gelangt diese in das axiale Argon-Plasma,  wobei das emittierte Licht über das CCD-Optiksystem, welches in Paschen-Runge Aufstellung angeordnet ist, detektiert wird. 
Aufgrund der kurzen Reaktions- und Messzeiten ist das zukünftige Ziel die Kopplung des Systems an elektrochemische Prozesse. 

 

 

The University for the Information Society