Kleinwinkellichtstreuung

Das Instrument wurde von N. Schmidt im Rahmen seiner Dissertation aufgebaut. Es ist ausführlich beschrieben in (N. Schmidt, S. Keuker-Baumann, J. Meyer and K. Huber J. Polymer. Sci., Part B: Polym. Physics (2019) 57 (22), 1483-1495 DOI: 10.1002/polb.24892) und (N. Schmidt, Dissertation, Paderborn 2020). Als Primärlichtquelle dient ein linear polarisierter He-Ne laser (G040804000, Qioptiq Photonics GmbH & Co. KG, Göttingen, Germany, Wellenlänge 632.8 nm, Leistung 2 mW).

Winkelbereich des Detektors :  0,5° < Θ < 15°

Streuvektorbereich (hängt vom Medium (n) ab) :  8,7.105 m < q < 26.105 m, bei n=1

Zeitauflösung:  Maximale Geschwindigkeit ist ein Streubild pro Sekunde

Das Instrument nimmt zeitaufgelöst zweidimensionale Streubilder mit einer CMOS Detektionseinheit der Ausmaße 11,3 mm x 11,3 mm (CMV4000, ams Sensors, Germany GmbH, Nürnberg) auf. Der Aufbau erlaubt eine Detektion des horizontal polarisierten Streulichtes bei vertikal polarisiertem Primärlicht (depolarisierte Lichtstreuung).

Messgrößen sind Streubilder wachsender Polymerkristallite und deren Auswertung (depolarisierte Lichtstreuung). Trägheitsradienquadrate (Rg2) und Formfaktoren kolloidaler Partikel in verdünnter Lösung (Partikelradius 1 mm < Rg < 30 mm). Trägheitsradienquadrate und Formfaktoren sind z-mittlere Daten.

Zusatzgeräte: Temperierbarer Probenstand für Polymerschmelzen mit einem ansteuerbaren Temperaturbereich von 25 °C < T < 250 °C.