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Department Chemie
Hornluftdosierung an einer Spritzpistole im Praktikum Lackapplikation Bildinformationen anzeigen
Kolorierte Rasterelektronenmikroskopaufnahme eines Effektpigmentes Bildinformationen anzeigen
Mittels des PeakForce QNM-Messmodus lassen sich nanomechanische Eigenschaften am Rasterkraftmikroskop ermitteln. Bildinformationen anzeigen
Kolorierte Rasterelektronenmikroskopaufnahme einer mmonodispersen Polymerdispersion Bildinformationen anzeigen
Probenwechsel unter dem Infrarotstrahler Bildinformationen anzeigen
Ermittlung der Kornfeinheit mittels Grindometer im Praktikum Bildinformationen anzeigen

Hornluftdosierung an einer Spritzpistole im Praktikum Lackapplikation

Foto: Irina Regehr, CMP, Universität Paderborn

Kolorierte Rasterelektronenmikroskopaufnahme eines Effektpigmentes

Foto: Nadine Buitkamp, CMP, Universität Paderborn

Mittels des PeakForce QNM-Messmodus lassen sich nanomechanische Eigenschaften am Rasterkraftmikroskop ermitteln.

Foto: Irina Regehr, CMP, Universität Paderborn

Kolorierte Rasterelektronenmikroskopaufnahme einer mmonodispersen Polymerdispersion

Foto: Nadine Buitkamp, CMP, Universität Paderborn

Probenwechsel unter dem Infrarotstrahler

Foto: Irina Regehr, CMP, Universität Paderborn

Ermittlung der Kornfeinheit mittels Grindometer im Praktikum

Foto: Irina Regehr, CMP, Universität Paderborn

Coatings, Materials & Polymers
Prof. Dr. Wolfgang Bremser

ATR-FTIR Spektroskopie mit dem Bruker Alpha

Für die Prozess- und Produktkontrolle von organischen Synthesen können Spektren im IR-Bereich wertvolle Informationen liefern. Durch Zuordnung funktioneller Gruppen organischer Verbindungen zu spezifischen Absorptions- bzw. Transmissionsbanden in einem Spektrum ist eine Identifikation und Quantifizierung möglich.

Die Anwendung moderner Fourier-Transformations-Infrarot-Spektroskopie (FT-IR-Spektroskopie) bietet gegenüber dispersiven Spektrometern einen erheblichen Zeitvorteil. Bei der Fourier-Transformation wird durch eine mathematische Operation aus einem Interferogramm (Interferenzmuster) ein Spektrum berechnet.

Bei dem hier vorhandenen sehr kompakten ATR-FT-IR-Spektrometer der Firma Bruker (Gerätename: Alpha-FT-IR Spektrometer mit einem ECO-ATR-Modul) wird eine abgeschwächte Totalreflexion ATR-Technik (Attenuated Total-Reflectance) angewendet.

Auf die Oberfläche eines ZnSe-ATR-Kristalls (Funktion: Lichtwellenleiter) dieses Spektrometers wird eine Probe des zu untersuchenden Materials aufgebracht. Beim Eintritt des Lichtsignals in die Probe findet eine Totalreflexion statt. Dieser abgeschwächte totalreflektierte Strahl wird vermessen und mit Hilfe einer Fouriertransformation in ein IR-Spektrum umgewandelt.

Die ATR-FT-IR-Spektroskopie weist gegenüber Transmissionsmessungen den Vorteil auf, dass in den meisten Fällen flüssige, pastöse und feste Proben ohne aufwendige Probenvorbereitung direkt auf die Kristalloberfläche aufgetragen und anschließend vermessen werden können.

Die Universität der Informationsgesellschaft