Die Quarzkristallmikrowaage (QCM) basiert auf den piezoelektrischen Eigenschaften von Quarz. Die Menge des auf der Oberfläche adsorbierten Materials wird anhand der Frequenzänderung bestimmt. Durch Untersuchung des Impedanzspektrums des Quarzkristalls lassen sich darüber hinaus weitere Eigenschaften des adsorbierten Films ableiten. In der elektrochemischen QCM-Zelle ist der Quarzkristall die Arbeitselektrode. So ist es möglich, den Einfluss des angelegten Potentials auf den Adsorptions- oder Auflösungsprozess zu bestimmen.

Die Messung der Dissipation ermöglicht die Analyse von Viskositätsänderungen an der Grenzfläche, was für die Analyse von Quellungsprozessen oder die Adsorption weicher Materialien von Bedeutung ist.

Die Scanning Kelvin Probe (SKP) hat sich im Bereich der zerstörungsfreien Messung von Oberflächen- und Grenzflächenpotentialen sowie bei der Untersuchung von Delaminationsprozessen an Polymer/Oxid/Metall-Grenzflächen etabliert. Die höhengeregelte SKP liefert in Kombination mit der gemessenen Potentialverteilung eine topographische Information.

Ein weiterer fortschrittlicher Ansatz am TMC ist die Kombination eines Blistertests mit dem HR-SKP-Ansatz, der die Untersuchung von Polymer/Metall-Grenzflächen unter kombinierter korrosiver und mechanischer Belastung ermöglicht.